武汉| 2023是德科技新产品研发测试技术研讨会
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作为行业的领导者, 是德科技的工程师们, 在过去一年中利用测试手段, 帮助了众多的研发工程师成功测试了他们的产品。我们希望通过这次技术交流会, 与更多的工程师分享我们的测试工作的经验和得失。希望通过本次培训帮助更多的工程师提升效率,快速解决工作中的问题。
在这个专题中,我们将分享器件测量原理、夹具选择和校准、电源完整性的测试和分析、电池模型提取和模拟方案, 以优化设计,延长电池续航、微小信号、高阻器件和材料的精确测试、三代半导体电路动态电流测量与分析。
听众报名通道已经开启,相信您会满载而归。
会议站点 协办媒体:新电子 会议时间:2023年5月17日 武流站 会议地址: 武汉光谷华美达酒店 5F西湖厅 武汉市洪山区珞瑜路726号(地铁2号线光谷广场地铁附近)
会议流程
时间 议程 13:00--13:30 来宾签到 13:30--14:10 器件测量原理、夹具选择和校准 14:10--14:50 14:50--15:30 电池模型提取和模拟方案, 以优化设计,延长电池续航 15:30--15:50 Demo展示 幸运抽奖 15:50--16:30 16:30--17:00 三代半导体电路动态电流测量与分析 17:00 会议结束 ※日程仅供参考,以活动当日为准 演讲摘要 器件测量原理、夹具选择和校准 阻容元器件在现代电子电路中是一个基本组成部分,应用的情形众多, 工作频率越来越高,连接方式既有插脚, 也有SMD表面封装,为了精确评价这些元器件,就必须从阻抗测试原理, 到四端对连接方式,以及夹具选择和校准方法等进行全方位的考虑。 电源完整性的测试和分析 电子产品都离不开电源,而电源部件也是大多数电子产品故障的最主要原因。高速数字电路电源完整性精确测量一直是个难题,以前大部分研发单位和公司并不进行这些电源完整性参数的测量。但是,随着数字信号速率的不断提升,特别是提升到
Gbps 以上数量级后,电源完整性的测量成为关键测试项目之一,另外芯片和 CPU
的供电电平也越来越低,使得它对电平的变化更加敏感。本议题将介绍电源完整性的概念,测试方法和测量技巧 电池模型提取和模拟方案, 以优化设计,延长电池续航 电池作为一个重要的部件,
在当前电子和绿能产品中广泛应用。但对众多研发工程师来说,电池就像一个“黑盒子”,相应的特性曲线众多——放电倍率、温度、截止电压、循环充放电次数等都会大大影响其使用。如果仅仅依据电池的标称电压和容量进行产品的性能和续航时间的预测,往往实际结果大相径庭。这就为工程师选用合适的电池,
或寻找优化产品性能的路径, 造成很多的困扰。 本专题利用是德科技的电池分析和模拟手段, 为你揭秘、分析电池特性,提取电池模型,
并对此进行模拟,同时配合产品功耗的测试, 全面测试和验证电池性能, 优化智能设备、储能逆变器、电池管理等产品的设计,延长电池续航时间。 微小信号、高阻器件和材料的精确测试 在半导体、材料、极值电阻、MEM是等精确测试中, 精确的低电压、小电流等微弱静态和动态电信号的测试是工程师面临的挑战!本专题从精密I/V 测量的SMU源表开始,介绍源表的工作原理, 以及在不同的应用场景中, 如何选择合适的治具, 达到最佳的测试结果。 三代半导体电路动态电流测量与分析 该专题关注在宽禁带器件电路测试的一个核心难题,
就是高动态、高带宽的电流测量。这种第三代半导体,不仅主路大电流存在高动态 ,同时驱动电流这种弱信号也存在高动态、高带宽的工况。在直播中,
我们将利用不同的手段,如不同类型的示波器、电流波形分析仪等, 对电路设计上的动态电流进行测量与分析,比较各种手段的优点和不足,
为您选择最佳的测试方法提供借鉴。 参会须知 报名条件 电子从业者工程师有限报名;对话题感兴趣的非专业人士报名后,我们将根据报名情况进行筛选通知 名额设置 本次活动提供60个免费参会名额,座位有限请提早确认参会情况 报名成功通知 报名成功后,我们将在活动开始前,以短信或邮件的形式给您发送邀请确认函编号,届时请注意查收电源完整性的测试和分析 微小信号、高阻器件和材料的精确测试
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